Um die kleinsten Strukturen von Polymeren, Fasern und Garnen zu vergrößern und bildlich darzustellen, verfügen die DITF über ein breites Spektrum an Licht- und Rasterelektrodenmikroskopen und haben langjährige Erfahrung in der Anwendung unterschiedlichster Mikroskopieverfahren.
FE-Rasterelektronenmikroskop mit FIB
![Geräteausstattung Licht- und Rasterelektronenmikroskopie des Deutsche Institute für Textil- und Faserforschung- ZEISS Auriga](files/inhalt/service-dienstleistungen/pruefung/prueflabor-textilchemie-und-chemiefasern/geraeteausstattung-mikroskopie/01.jpg)
hochauflösende Feldemssions-REM mit
- FIB (Focused Ion Beam) – zum in-situ-Schneiden der Proben mittels Ionenstrahl
- EDX-Detektor – für Mikrobereichsanalytik
- verschiedenen Detektoren (Inlens, Everhardt-Thornley, 4-Quadranten-BSE, ESB, STEM) für optimale Bilderzeugung
- Charge Compensation – zur Verringerung von Aufladungen nichtleitender Proben
Sputter- und Bedampfungseinrichtungen
![Geräteausstattung Licht- und Rasterelektronenmikroskopie des Deutsche Institute für Textil- und Faserforschung- Hochleistungssputter von QT](files/inhalt/service-dienstleistungen/pruefung/prueflabor-textilchemie-und-chemiefasern/geraeteausstattung-mikroskopie/02.jpg)
um leitfähige Oberflächenbeschichtung herzustellen. Schichtdicken sind reproduzierbar. Beschichtet werden kann mit Platin-Palladium, Kohlenstoff, Chrom, Gold-Palladium, Gold
Universelles Forschungsmikroskop
![Geräteausstattung Licht- und Rasterelektronenmikroskopie des Deutsche Institute für Textil- und Faserforschung- Zeiss Axioplan](files/inhalt/service-dienstleistungen/pruefung/prueflabor-textilchemie-und-chemiefasern/geraeteausstattung-mikroskopie/03.jpg)
mit Einrichtungen für
- Phasenkontrast
- Differentiellen Interferenzkontrast
- Polarisation
- Auflicht-Fluoreszenz
Auflicht-Mikroskop
![Geräteausstattung Licht- und Rasterelektronenmikroskopie des Deutsche Institute für Textil- und Faserforschung- Zeiss Axioskop](files/inhalt/service-dienstleistungen/pruefung/prueflabor-textilchemie-und-chemiefasern/geraeteausstattung-mikroskopie/04.jpg)
für die Untersuchung von materialographischen Anschliffen. Kontrastverfahren Hellfeld, Dunkelfeld, Differentieller Interferenzkontrast.
Materialwissenschaftliches Stereomikroskop
![Geräteausstattung Licht- und Rasterelektronenmikroskopie des Deutsche Institute für Textil- und Faserforschung- Zeiss Stereomikroskop Discovery V12](files/inhalt/service-dienstleistungen/pruefung/prueflabor-textilchemie-und-chemiefasern/geraeteausstattung-mikroskopie/05.jpg)
zur Charakterisierung 3-dimensionaler Strukturen. Sehr hoher Vergrößerungsbereich. Chromatisch-plankorrigierte Objektive. Makroskop-Funktion (ermöglicht Aufnahmen mit erweiterter Tiefenschärfe). Sehr umfangreiche Beleuchtungsmöglichkeiten. Motorische Steuerung.
Polarisationsmikroskop
![Geräteausstattung Licht- und Rasterelektronenmikroskopie des Deutsche Institute für Textil- und Faserforschung- Leitz Laborlux 12Pol Polarisationsmikroskop](files/inhalt/service-dienstleistungen/pruefung/prueflabor-textilchemie-und-chemiefasern/geraeteausstattung-mikroskopie/06.jpg)
für polarisationsoptische Messungen in Orthoskopie (z.B. Doppelbrechungsmessung an Fasern) und Konoskopie (Lage der optischen Achse). Umfangreiches Zubehör an Kompensatoren.